کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
7910968 1510855 2018 7 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Atom probe tomography of nitride semiconductors
ترجمه فارسی عنوان
توموگرافی اتم نیمه هادی نیترید
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش مقاله
توموگرافی اتم نیمه هادی نیترید
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Scripta Materialia - Volume 148, 15 April 2018, Pages 75-81
نویسندگان
, , , , ,