کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7910968 | 1510855 | 2018 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Atom probe tomography of nitride semiconductors
ترجمه فارسی عنوان
توموگرافی اتم نیمه هادی نیترید
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سرامیک و کامپوزیت
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Scripta Materialia - Volume 148, 15 April 2018, Pages 75-81
Journal: Scripta Materialia - Volume 148, 15 April 2018, Pages 75-81
نویسندگان
L. Rigutti, B. Bonef, J. Speck, F. Tang, R.A. Oliver,