کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
7911842 1510883 2016 4 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
In situ observations of Berkovich indentation induced phase transitions in crystalline silicon films
ترجمه فارسی عنوان
مشاهدات در محل وقوع فاکتورهای القا شده ببرکویچ در فیلمهای سیلیکونی بلوری
کلمات کلیدی
طیف سنجی رامان، سیلیکون، انتقال فاز، نانو انداختن،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش مقاله
مشاهدات در محل وقوع فاکتورهای القا شده ببرکویچ در فیلمهای سیلیکونی بلوری
چکیده انگلیسی
In-situ Raman mapping during loading segment of Berkovich indentations in silicon.370
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Scripta Materialia - Volume 120, 15 July 2016, Pages 19-22
نویسندگان
, , ,