دانلود رایگان مقاله ISI : تشخیص میکرووئید در لایه های سیلیکونی آمورف هیدروژنه نازک با استفاده از طیف سنجی مادون قرمز طیف سنجی و فوریه

Characterization of microvoids in thin hydrogenated amorphous silicon layers by spectroscopic ellipsometry and Fourier transform infrared spectroscopy

Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Scripta Materialia - Volume 107, October 2015, Pages 50-53

Wenzhu Liu, Liping Zhang, Fanying Meng, Wanwu Guo, Jian Bao, Jinning Liu, Dongliang Wang, Zhengxin Liu,