کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7912841 | 1510896 | 2015 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Characterization of microvoids in thin hydrogenated amorphous silicon layers by spectroscopic ellipsometry and Fourier transform infrared spectroscopy
ترجمه فارسی عنوان
تشخیص میکرووئید در لایه های سیلیکونی آمورف هیدروژنه نازک با استفاده از طیف سنجی مادون قرمز طیف سنجی و فوریه
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سرامیک و کامپوزیت
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Scripta Materialia - Volume 107, October 2015, Pages 50-53
Journal: Scripta Materialia - Volume 107, October 2015, Pages 50-53
نویسندگان
Wenzhu Liu, Liping Zhang, Fanying Meng, Wanwu Guo, Jian Bao, Jinning Liu, Dongliang Wang, Zhengxin Liu,