کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7912964 | 1510896 | 2015 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Cross-sectional X-ray nano-diffraction and -reflectivity analysis of multilayered AlTiN-TiSiN thin films: Correlation between residual strain and bi-layer period
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش صفحه اول مقاله
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Scripta Materialia - Volume 107, October 2015, Pages 153-156
Journal: Scripta Materialia - Volume 107, October 2015, Pages 153-156
نویسندگان
M. Bartosik, M. Arndt, R. Rachbauer, C. Krywka, C.M. Koller, J. Keckes, P.H. Mayrhofer,