کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7928735 | 1512564 | 2016 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Full-field hard x-ray microscopy with interdigitated silicon lenses
ترجمه فارسی عنوان
میکروسکوپ مجتمع اشعه ایکس کامل با لنزهای سیلیکونی بین دندانی
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
اشعه ایکس، اپتیک، تصویربرداری، میکروسکوپ، سیلیکون،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
مواد الکترونیکی، نوری و مغناطیسی
چکیده انگلیسی
Full-field x-ray microscopy using x-ray objectives has become a mainstay of the biological and materials sciences. However, the inefficiency of existing objectives at x-ray energies above 15Â keV has limited the technique to weakly absorbing or two-dimensional (2D) samples. Here, we show that significant gains in numerical aperture and spatial resolution may be possible at hard x-ray energies by using silicon-based optics comprising 'interdigitated' refractive silicon lenslets that alternate their focus between the horizontal and vertical directions. By capitalizing on the nano-manufacturing processes available to silicon, we show that it is possible to overcome the inherent inefficiencies of silicon-based optics and interdigitated geometries. As a proof-of-concept of Si-based interdigitated objectives, we demonstrate a prototype interdigitated lens with a resolution of â255Â nm at 17Â keV.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Optics Communications - Volume 359, 15 January 2016, Pages 460-464
Journal: Optics Communications - Volume 359, 15 January 2016, Pages 460-464
نویسندگان
Hugh Simons, Frederik Stöhr, Jonas Michael-Lindhard, Flemming Jensen, Ole Hansen, Carsten Detlefs, Henning Friis Poulsen,