کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7929882 | 1512581 | 2015 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Widefield microscopy with infinite depth of field and enhanced lateral resolution based on an image inverting interferometer
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
مواد الکترونیکی، نوری و مغناطیسی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Widefield microscopy with infinite depth of field and enhanced lateral resolution based on an image inverting interferometer Widefield microscopy with infinite depth of field and enhanced lateral resolution based on an image inverting interferometer](/preview/png/7929882.png)
چکیده انگلیسی
We present an interferometric method to gain a theoretically infinite depth of field. Simultaneously, this technique yields an enhanced lateral resolution. This can be achieved by measuring the complex coherence function using an image inverting interferometer. A mathematical explanation of our proposal is given and first experimental results, demonstrating the depth of field as well as the enhanced lateral resolution, are presented.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Optics Communications - Volume 342, 1 May 2015, Pages 102-108
Journal: Optics Communications - Volume 342, 1 May 2015, Pages 102-108
نویسندگان
Daniel Weigel, Holger Babovsky, Armin Kiessling, Richard Kowarschik,