کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7929882 | 1512581 | 2015 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Widefield microscopy with infinite depth of field and enhanced lateral resolution based on an image inverting interferometer
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
مواد الکترونیکی، نوری و مغناطیسی
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
We present an interferometric method to gain a theoretically infinite depth of field. Simultaneously, this technique yields an enhanced lateral resolution. This can be achieved by measuring the complex coherence function using an image inverting interferometer. A mathematical explanation of our proposal is given and first experimental results, demonstrating the depth of field as well as the enhanced lateral resolution, are presented.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Optics Communications - Volume 342, 1 May 2015, Pages 102-108
Journal: Optics Communications - Volume 342, 1 May 2015, Pages 102-108
نویسندگان
Daniel Weigel, Holger Babovsky, Armin Kiessling, Richard Kowarschik,