کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7932239 | 1512614 | 2013 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Broadband THz, extended depth of focus imaging based on step phase mask aided interferometry
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
مواد الکترونیکی، نوری و مغناطیسی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Broadband THz, extended depth of focus imaging based on step phase mask aided interferometry Broadband THz, extended depth of focus imaging based on step phase mask aided interferometry](/preview/png/7932239.png)
چکیده انگلیسی
This work describes the realization of an extended depth of field (EDOF) in pulsed THz imaging systems using a step phase mask (SPM) attached to the objective lens. The SPM was designed to generate an EDOF compared to Gaussian broadband sources. This imaging property is demonstrated using a resolution target illuminated by broadband THz beams. An imaging depth improvement factor of 1.5 is demonstrated. In this paper we present the element design method together with numerical and experimental results.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Optics Communications - Volume 309, 15 November 2013, Pages 1-5
Journal: Optics Communications - Volume 309, 15 November 2013, Pages 1-5
نویسندگان
Assaf Bitman, Inon Moshe, Zeev Zalevsky,