کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7986320 | 1515126 | 2016 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Thoughts about next-generation (S)TEM instruments in science
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
دانش مواد (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Thoughts about next-generation (S)TEM instruments in science Thoughts about next-generation (S)TEM instruments in science](/preview/png/7986320.png)
چکیده انگلیسی
Different aspects of desirable developments in (scanning) transmission electron microscopes are discussed. Topics are the issues with closed data and control channels, the fixed optical design, and the layout of the sample environment. A solution concept to some of these issues on the basis of current technology and already demonstrated concepts is presented and future possibilities in in situ and multi-dimensional microscopy with the new concept are laid out.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Micron - Volume 90, November 2016, Pages 1-5
Journal: Micron - Volume 90, November 2016, Pages 1-5
نویسندگان
Felix Börrnert,