دانلود رایگان مقاله ISI : میکروسکوپ نیروی اتمی، تجزیه و تحلیل زبری از پلیمرهای نازک پلی (دیامینوفالن) پلی اتیلن (پلی وینیل الکل)

Atomic force microscopy enabled roughness analysis of nanostructured poly (diaminonaphthalene) doped poly (vinyl alcohol) conducting polymer thin films

Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Micron - Volume 90, November 2016, Pages 12-17

Anil Kumar Bajpai, Rinkesh Bhatt, Ravi Katare,