کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7986794 | 1515153 | 2014 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
The effect of probe inaccuracies on the quantitative model-based analysis of high angle annular dark field scanning transmission electron microscopy images
ترجمه فارسی عنوان
اثر ناسازگاری پروب بر روی تجزیه و تحلیل کمی مبتنی بر مدل های میکروسکوپ الکترونیک انتقال الکترون
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
دانش مواد (عمومی)
چکیده انگلیسی
Quantitative structural and chemical information can be obtained from high angle annular dark field scanning transmission electron microscopy (HAADF STEM) images when using statistical parameter estimation theory. In this approach, we assume an empirical parameterized imaging model for which the total scattered intensities of the atomic columns are estimated. These intensities can be related to the material structure or composition. Since the experimental probe profile is assumed to be known in the description of the imaging model, we will explore how the uncertainties in the probe profile affect the estimation of the total scattered intensities. Using multislice image simulations, we analyze this effect for Cs corrected and non-Cs corrected microscopes as a function of inaccuracies in cylindrically symmetric aberrations, such as defocus and spherical aberration of third and fifth order, and non-cylindrically symmetric aberrations, such as 2-fold and 3-fold astigmatism and coma.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Micron - Volume 63, August 2014, Pages 57-63
Journal: Micron - Volume 63, August 2014, Pages 57-63
نویسندگان
G.T. Martinez, A. De Backer, A. Rosenauer, J. Verbeeck, S. Van Aert,