کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8018352 | 1517236 | 2015 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
In-situ TEM mechanical testing of nanocrystalline zirconium thin films
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
Mechanical behavior of nanocrystalline zirconium thin films was investigated in-situ inside a transmission electron microscope (TEM). The yield stress measured for specimens with <10Â nm grain size was around 450-500Â MPa compared to the bulk value of 250-300Â MPa. Similar grain size effects are seen on fracture stress and strain of about 0.9Â GPa and 1.5-2% respectively. Using in-situ TEM, we demonstrate control of grain size in the specimens using electro-migration stress and temperature. The experimental results suggest that the critical grain size for inverse Hall-Petch type relationship in nanocrystalline hexagonal close packed metals could be around 15Â nm.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials Letters - Volume 152, 1 August 2015, Pages 105-108
Journal: Materials Letters - Volume 152, 1 August 2015, Pages 105-108
نویسندگان
Baoming Wang, Vikas Tomar, Aman Haque,