کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8022149 | 1517281 | 2013 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Defect annealing in ultra-thin polycrystalline silicon films on glass: Rapid thermal versus laser processing
ترجمه فارسی عنوان
آنیلینگ نقص در فیلم های سیلیکونی پلی کریستال بسیار نازک بر روی شیشه: پردازش سریع لیزر در برابر لیزر
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
عیوب، خواص الکتریکی، مواد انرژی خورشیدی، فیلم های نازک
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials Letters - Volume 107, 15 September 2013, Pages 1-4
Journal: Materials Letters - Volume 107, 15 September 2013, Pages 1-4
نویسندگان
Wei Li, Sergey Varlamov, Jonathon Dore, Martin Green,