کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8023434 | 1517533 | 2018 | 16 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
A multilayer structure shear lag model applied in the tensile fracture characteristics of supersonic plasma sprayed thermal barrier coating systems based on digital image correlation
ترجمه فارسی عنوان
یک مدل لاغر برشی ساختار چند لایه در ویژگی های شکست کششی از سیستم های پوشش محافظ حرارتی گرم بر روی پلاسما بر اساس همبستگی تصویر دیجیتالی
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
مدل تاخیر برشی، همبستگی تصویر دیجیتال، تست کششی، پوشش های مانع حرارتی، ویژگی های مکانیکی،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
چکیده انگلیسی
We developed a multilayer structure shear lag model used in analyzing tensile fracture behavior of supersonic plasma sprayed 8â¯wt% yttria-stabilized zirconia thermal barrier coatings (TBCs). The closed-form solutions of plane and shear stresses were deduced by using the shear lag model. Dynamic strain fields, cracking nucleation and propagation features of TBCs during tensions were in-situ monitored by non-contact digital image correlation (DIC) measurement system. The evolutions of plane and shear stresses in TBCs were estimated by the above closed-form solutions. Using in-situ measurement results of DIC, we further obtained the fracture strengths, interface shear strengths, fracture energy and fracture toughness of TBCs, and summarized the whole tensile fracture mechanisms of TBCs. This shear lag model with the aid of DIC is useful for measuring the mechanical properties of other novel multiple-layer structure brittle coating/ductile substrate systems.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Surface and Coatings Technology - Volume 350, 25 September 2018, Pages 211-226
Journal: Surface and Coatings Technology - Volume 350, 25 September 2018, Pages 211-226
نویسندگان
W.G. Mao, Y.Y. Chen, Y.J. Wang, M. Zhou, H.Y. Yang, Z. Wang, C.Y. Dai, X. Chen, D.N. Fang,