کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8037627 | 1518285 | 2018 | 35 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Theoretical framework of statistical noise in scanning transmission electron microscopy
ترجمه فارسی عنوان
چارچوب نظری نویز آماری در میکروسکوپ الکترونی انتقال اسکن
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
چکیده انگلیسی
Statistical noise, or shot noise, dominates experimental image quality in scanning transmission electron microscopy because efficiencies of recent detectors are close to ideal. We establish a general framework for the statistical noise taking into account two random processes in the electron incidence and the electron scattering. Using this framework, in terms of signal-to-noise ratio, we evaluate several STEM coherent imaging techniques: annular bright field, enhanced annular bright field, differential phase contrast, and ptychography and show that ptychography is the most efficient imaging for weak phase objects. Moreover, we find that normalizing annular-bright-field image by total electron count in the bright field significantly suppress the noise.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 193, October 2018, Pages 118-125
Journal: Ultramicroscopy - Volume 193, October 2018, Pages 118-125
نویسندگان
Takehito Seki, Yuichi Ikuhara, Naoya Shibata,