کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8037629 | 1518285 | 2018 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
New approach in Auger elemental relative sensitive factor calculation by using TEM-EDS analysis based on bi-layers of pure elements
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
In this work we show how the use of TEM-EDS quantification of Ni in Ag could be a successful method for ERSF evaluation in order to overcome matrix effect in Auger quantification. For this purpose suitable foils of Ag/Al and Ni/Al were used. The validation of the method was performed on a sample with a tri-metal stack of Ti/Ni/Ag previously stimulated by means of a thermal budget to induce Ni migration on Ag surface. The quantitative analysis allowed us to use this characterized sample as AES standard for ERSF calculation.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 193, October 2018, Pages 143-150
Journal: Ultramicroscopy - Volume 193, October 2018, Pages 143-150
نویسندگان
D. Mello, M. Nacucchi, G. Anastasi, M. Sacchi, R. Ricciari, E. Burresi, L. Tapfer,