On the retrieval of crystallographic information from atom probe microscopy data via signal mapping from the detector coordinate space

توموگرافی پروب اتم یک روش میکروسکوپی قوی است که قادر است موقعیت مکانی و هویت شیمیایی میلیون ها اتم در مواد مهندسی، در سطح اتمی را بازسازی کند. اطلاعات کریستالوگرافی در داخل داده ها به ویژه برای کالیبراسیون بازسازی و تجزیه و تحلیل مرز دانه مورد استفاده قرار می گیرد. به طور معمول، تجزیه و تحلیل این داده ها روند دستی، زمان گیر و خطای خطا است. در بسیاری از موارد، سیگنال کریستالوگرافی بسیار ضعیف است و در همه موارد دشوار است. در این مطالعه، یک روش جدید پردازش سیگنال جدید نشان داده شده است. ما از خواص وابسته فضای مختصات آشکارساز یا «پشته آشکارساز» استفاده میکنیم، به عنوان مبنایی برای محاسبات ما. چارچوب روش شناسی و ابزار تجسم نشان داده شده است که از روش استاندارد بصری پلاستر کریستالوگرافی مستقیما از تصاویر تبخیر میدان استفاده می کنند و نیازی به تکرار بین بازسازی توموگرافی اولیه کامل فضای واقعی و پشته آشکارساز نیست. روش های نقشه برداری برای آلومینیوم، تنگستن، منیزیم و مولیبدن نشان داده شده است. معیارهای مربوط به کالیبراسیون بازسازی، صحت اندازه گیری های کریستالوگرافی، قابلیت اطمینان و تکرارپذیری مورد بحث قرار گرفته است.