کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
8037674 1518289 2018 20 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Exploring possibilities of band gap measurement with off-axis EELS in TEM
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Exploring possibilities of band gap measurement with off-axis EELS in TEM
چکیده انگلیسی
The suggested approach is experimentally demonstrated and provides good signal to noise ratio and interpretable band gap signals on reference samples of diamond, GaN and AlN while offering spatial resolution in the nm range.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 189, June 2018, Pages 76-84
نویسندگان
, , , , , , ,