کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8037674 | 1518289 | 2018 | 20 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Exploring possibilities of band gap measurement with off-axis EELS in TEM
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
The suggested approach is experimentally demonstrated and provides good signal to noise ratio and interpretable band gap signals on reference samples of diamond, GaN and AlN while offering spatial resolution in the nm range.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 189, June 2018, Pages 76-84
Journal: Ultramicroscopy - Volume 189, June 2018, Pages 76-84
نویسندگان
Svetlana Korneychuk, Bart Partoens, Giulio Guzzinati, Rajesh Ramaneti, Joff Derluyn, Ken Haenen, Jo Verbeeck,