کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
8037683 1518290 2018 7 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Software electron counting for low-dose scanning transmission electron microscopy
ترجمه فارسی عنوان
شمارش الکترونی نرم افزار برای میکروسکوپ الکترونی پرینت اسکن کم
کلمات کلیدی
شمارش الکترونی، دوز کم ساقه، سیگنال الکتریکی تک
ترجمه چکیده
عملکرد آشکارساز اهمیت کلیدی برای تصویربرداری با دوز کم در میکروسکوپ الکترونی انتقال است و شمارش هر الکترون تنها می تواند به عنوان هدف نهایی محسوب شود. در میکروسکوپ الکترونی انتقال اسکن، تصویربرداری با دوز کم میتواند توسط اسکن بسیار سریع انجام شود، با این حال، این نیز مصنوعات و کاهش قطعنامه را در جهت اسکن معرفی می کند. ما یک رویکرد نرم افزاری برای اصلاح مصنوعاتی که توسط اسکنهای سریع معرفی شده است، ساخته شده است، و از یک پاسخ متقاطع کننده و فوتوولتایپیرین که بیش از چند پیکسل گسترش می یابد استفاده می کنیم. پارامترهای این اصلاح می تواند به طور مستقیم از تصویر خام استخراج شود. در نهایت، تصاویر را می توان به تعداد الکترون تبدیل کرد. این روش تصویربرداری با دوز کم را در میکروسکوپ الکترونی انتقال اسکن را با سرعت اسکن بالا انجام می دهد، در حالی که حفظ کیفیت تصویر اسکن های کندتر از مصنوعی را حفظ می کند.
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
چکیده انگلیسی
The performance of the detector is of key importance for low-dose imaging in transmission electron microscopy, and counting every single electron can be considered as the ultimate goal. In scanning transmission electron microscopy, low-dose imaging can be realized by very fast scanning, however, this also introduces artifacts and a loss of resolution in the scan direction. We have developed a software approach to correct for artifacts introduced by fast scans, making use of a scintillator and photomultiplier response that extends over several pixels. The parameters for this correction can be directly extracted from the raw image. Finally, the images can be converted into electron counts. This approach enables low-dose imaging in the scanning transmission electron microscope via high scan speeds while retaining the image quality of artifact-free slower scans.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 188, May 2018, Pages 1-7
نویسندگان
, , ,