کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8037738 | 1518292 | 2018 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Fine tuning an aberration corrected ADF-STEM
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Aberration correctors offer greatly enhanced resolution in electron microscopes, however can require dramatically more complicated adjustments. A method of computer adjustment of a probe forming aberration corrector in a Scanning Transmission Electron Microscope (STEM) is proposed and analyzed using image simulation. This method works directly with the image and should work well with crystalline specimens. It does not have a significant dependence on post specimen lens aberrations.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 186, March 2018, Pages 62-65
Journal: Ultramicroscopy - Volume 186, March 2018, Pages 62-65
نویسندگان
Earl J. Kirkland,