کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8037741 | 1518292 | 2018 | 28 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Increasing compositional backscattered electron contrast in scanning electron microscopy
ترجمه فارسی عنوان
افزایش کنتراست الکترونی پشتی ترکیب شده در میکروسکوپ الکترونی اسکن
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
میکروسکوپ الکترونی اسکن، تصویر الکترون الفبای پراکنده، کنتراست مواد، کنتراست ترکیبی، توپوگرافی،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
چکیده انگلیسی
Three analytical and semi-empirical compensation algorithms employing different physical models and approximations are implemented and compared to conventional BSE signals to show the effectivity of the proposed compensation approach.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 186, March 2018, Pages 82-93
Journal: Ultramicroscopy - Volume 186, March 2018, Pages 82-93
نویسندگان
F. Timischl, N. Inoue,