کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
8037741 1518292 2018 28 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Increasing compositional backscattered electron contrast in scanning electron microscopy
ترجمه فارسی عنوان
افزایش کنتراست الکترونی پشتی ترکیب شده در میکروسکوپ الکترونی اسکن
کلمات کلیدی
میکروسکوپ الکترونی اسکن، تصویر الکترون الفبای پراکنده، کنتراست مواد، کنتراست ترکیبی، توپوگرافی،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
چکیده انگلیسی
Three analytical and semi-empirical compensation algorithms employing different physical models and approximations are implemented and compared to conventional BSE signals to show the effectivity of the proposed compensation approach.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 186, March 2018, Pages 82-93
نویسندگان
, ,