کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8037837 | 1518308 | 2016 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Custom sample environments at the ALBA XPEEM
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
A variety of custom-built sample holders offer users a wide range of non-standard measurements at the ALBA synchrotron PhotoEmission Electron Microscope (PEEM) experimental station. Some of the salient features are: an ultrahigh vacuum (UHV) suitcase compatible with many offline deposition and characterization systems, built-in electromagnets for uni- or biaxial in-plane (IP) and out-of-plane (OOP) fields, as well as the combination of magnetic fields with electric fields or current injection. Electronics providing a synchronized sinusoidal signal for sample excitation enable time-resolved measurements at the 500Â MHz storage ring RF frequency.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 171, December 2016, Pages 63-69
Journal: Ultramicroscopy - Volume 171, December 2016, Pages 63-69
نویسندگان
Michael Foerster, Jordi Prat, Valenti Massana, Nahikari Gonzalez, Abel Fontsere, Bernat Molas, Oscar Matilla, Eric Pellegrin, Lucia Aballe,