کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8037874 | 1518311 | 2016 | 18 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Progress and new advances in simulating electron microscopy datasets using MULTEM
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Progress and new advances in simulating electron microscopy datasets using MULTEM Progress and new advances in simulating electron microscopy datasets using MULTEM](/preview/png/8037874.png)
چکیده انگلیسی
A new version of the open source program MULTEM is presented here. It includes a graphical user interface, tapering truncation of the atomic potential, CPU multithreading functionality, single/double precision calculations, scanning transmission electron microscopy (STEM) simulations using experimental detector sensitivities, imaging STEM (ISTEM) simulations, energy filtered transmission electron microscopy (EFTEM) simulations, STEM electron energy loss spectroscopy (EELS) simulations along with other improvements in the algorithms. We also present a mixed channeling approach for the calculation of inelastic excitations, which allows one to considerably speed up time consuming EFTEM/STEM-EELS calculations.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 168, September 2016, Pages 17-27
Journal: Ultramicroscopy - Volume 168, September 2016, Pages 17-27
نویسندگان
I. Lobato, S. Van Aert, J. Verbeeck,