Correcting nonlinear drift distortion of scanning probe and scanning transmission electron microscopies from image pairs with orthogonal scan directions

حرکت ناخواسته پروب در رابطه با نمونه، یک مشکل همه جا در پروب اسکن و میکروسکوپ الکترونی عبور اسکن است که باعث می شود هر دو مصنوعات خطی و غیر خطی در تصاویر تجربی. ما یک روش برای اصلاح این مصنوعات با استفاده از جفت های اسکن مجدد را برای تطبیق هر یک از خطوط اندازه گیری در طول مسیر اسکن آهسته، با تنظیم تنوع کنتراست در امتداد خطوط طراحی کرده ایم. ما دقت الگوریتم ما بر روی داده های مصنوعی و تجربی را نشان می دهیم و اجرای روش ما را ارائه می دهیم.