کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8038024 | 1518319 | 2016 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Single atom spectroscopy: Decreased scattering delocalization at high energy losses, effects of atomic movement and X-ray fluorescence yield
ترجمه فارسی عنوان
اسپکتروسکوپی اتمسفر تک: کمبود جاذبه های پراکندگی در از دست دادن انرژی بالا، اثرات حرکت اتمی و تولید فلورسانس اشعه ایکس
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
چکیده انگلیسی
Single atom localization and identification is crucial in understanding effects which depend on the specific local environment of atoms. In advanced nanometer scale materials, the characteristics of individual atoms may play an important role. Here, we describe spectroscopic experiments (electron energy loss spectroscopy, EELS, and Energy Dispersed X-ray spectroscopy, EDX) using a low voltage transmission electron microscope designed towards single atom analysis. For EELS, we discuss the advantages of using lower primary electron energy (30Â keV and 60Â keV) and higher energy losses (above 800Â eV). The effect of atomic movement is considered. Finally, we discuss the possibility of using atomically resolved EELS and EDX data to measure the fluorescence yield for X-ray emission.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 160, January 2016, Pages 239-246
Journal: Ultramicroscopy - Volume 160, January 2016, Pages 239-246
نویسندگان
Luiz H.G. Tizei, Yoko Iizumi, Toshiya Okazaki, Ryo Nakanishi, Ryo Kitaura, Hisanori Shinohara, Kazu Suenaga,