کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
8038070 1518321 2015 6 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Energy dispersive X-ray analysis on an absolute scale in scanning transmission electron microscopy
ترجمه فارسی عنوان
تجزیه و تحلیل اشعه ایکس پراکنده انرژی در یک مقیاس مطلق در میکروسکوپ الکترونی انتقال اسکن
ترجمه چکیده
ما توافق مقیاس مطلق بین تعداد شمارۀ اشعه ایکس در طیف سنجی اشعه ایکس پراکنده انرژی را با استفاده از پروب الکترونی یکپارچه و شبیه سازی اصول اولیه نشان می دهیم. طیف سنجی اسکن متوسط ​​در طیف وسیعی از ضخامت ها با پارامترهای میکروسکوپ دقیقا مشخص و کنترل شده جمع آوری شد. مقاطع یونیزاسیون با استفاده از تحریک کوانتومی مدل فونون ها، با استفاده از پراکندگی الکترون (پراکندگی چندگانه)، که حتی برای نمونه های بسیار نازک نیز قابل توجه است، محاسبه می شود.
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
چکیده انگلیسی
We demonstrate absolute scale agreement between the number of X-ray counts in energy dispersive X-ray spectroscopy using an atomic-scale coherent electron probe and first-principles simulations. Scan-averaged spectra were collected across a range of thicknesses with precisely determined and controlled microscope parameters. Ionization cross-sections were calculated using the quantum excitation of phonons model, incorporating dynamical (multiple) electron scattering, which is seen to be important even for very thin specimens.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 157, October 2015, Pages 21-26
نویسندگان
, , , , , ,