کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8038112 | 1518324 | 2015 | 9 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Removing the effects of the “dark matter” in tomography
ترجمه فارسی عنوان
از بین بردن اثرات ماده تاریک؟ در توموگرافی
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
توموگرافی، توموگرافی الکترونی، سری شیب دار، پردازش تصویر،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
چکیده انگلیسی
Electron tomography (ET) using different imaging modes has been progressively consolidating its position as a key tool in materials science. The fidelity of a tomographic reconstruction, or tomogram, is affected by several experimental factors. Most often, an unrealistic cloud of intensity that does not correspond to a real material phase of the specimen (“dark matter”) blurs the tomograms and enhances artefacts arising from the missing wedge (MW). Here we show that by simple preprocessing of the background level of any tomographic tilt series, it is possible to minimise the negative effects of that “dark matter”. Iterative reconstruction algorithms converge better, leading to tomograms with fewer streaking artefacts from the MW, more contrast, and increased accuracy. The conclusions are valid irrespective of the imaging mode used, and the methodology improves the segmentation and visualisation of tomograms of both crystalline and amorphous materials. We show examples of HAADF STEM and BF TEM tomography.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 154, July 2015, Pages 64-72
Journal: Ultramicroscopy - Volume 154, July 2015, Pages 64-72
نویسندگان
Lionel C. Gontard,