کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
8038149 1518327 2015 6 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Stimulated excitation electron microscopy and spectroscopy
ترجمه فارسی عنوان
میکروسکوپ الکترونی تحریک شده و طیف سنجی
کلمات کلیدی
تحریک در نزدیکی، تصویربرداری فونون، جابجایی اتمی، تعاملات لیزر افزایش یافته،
ترجمه چکیده
پیشرفت های اخیر در ابزار دقیق برای اپتیک الکترونی و اسپکتروسکوپی موجب شده است که اکتشافات فوق العاده کم مانند فونون ها، ارتعاشات باند و نویز جانسون را بررسی کنند. این می تواند نه تنها با الکترون های سریع، بلکه گرما یا سایر منابع خارجی تابش نیز هیجان زده شود. تئوری نزدیک به میدان از دست دادن و افزایش انرژی الکترون، یک پلت فرم مناسب برای تحلیل این فرآیند است. امکانات برای نقشه برداری فونون و تصویربرداری مورد بحث قرار گرفته است. قطعا می بایست تأثیرات در تصویر برداری ساختار قطعنامه اتمی قابل مشاهده باشد، اما تصویربرداری کنتراست پراکنده می تواند اطلاعات بیشتری داشته باشد. چشم انداز اضافی هیجان انگیز که باید مورد بررسی قرار گیرد عبارتند از: گذار از تحریک فونون به مجدد اتم یک اتم و افزایش میزان از دست دادن انرژی و افزایش سیگنال با روشنایی لیزر تنظیم شده.
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
چکیده انگلیسی
Recent advances in instrumentation for electron optics and spectroscopy have prompted exploration of ultra-low excitations such as phonons, bond vibrations and Johnson noise. These can be excited not just with fast electrons but also thermally or by other external sources of radiation. The near-field theory of electron energy loss and gain provides a convenient platform for analysing these processes. Possibilities for selected phonon mapping and imaging are discussed. Effects should certainly be observable in atomic resolution structure imaging but diffraction contrast imaging could perhaps be more informative. Additional exciting prospects to be explored include the transition from phonon excitation to single atom recoil and the boosting of energy loss and gain signals with tuned laser illumination.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 151, April 2015, Pages 116-121
نویسندگان
,