کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8038185 | 1518328 | 2015 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Precisely detecting atomic position of atomic intensity images
ترجمه فارسی عنوان
دقیقا تشخیص موقعیت اتمی تصاویر شدت اتمی
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موقعیت اتمی، تصویر شدت اتمی، نقشه برداری تنش،
ترجمه چکیده
ما یک روش کمی برای تشخیص موقعیت اتمی در تصاویر شدت اتمی از آزمایشات مانند میکروسکوپ الکترونی انتقال با وضوح بالا، میکروسکوپ نیروی اتمی و شبیه سازی از جمله مدل سازی کریستال میدان فاز پیشنهاد کردیم. ارزیابی دقت تشخیص عملکرد عالی این روش را اثبات می کند. این روش فرصتی برای دقیق تعاملات اتمی را براساس موقعیت های اتمی تشخیص داده شده از تصویر شدت اتمی فراهم می کند و از این رو برای بررسی خواص فیزیکی، شیمیایی و الکتریکی مرتبط است.
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
چکیده انگلیسی
We proposed a quantitative method to detect atomic position in atomic intensity images from experiments such as high-resolution transmission electron microscopy, atomic force microscopy, and simulation such as phase field crystal modeling. The evaluation of detection accuracy proves the excellent performance of the method. This method provides a chance to precisely determine atomic interactions based on the detected atomic positions from the atomic intensity image, and hence to investigate the related physical, chemical and electrical properties.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 150, March 2015, Pages 74-78
Journal: Ultramicroscopy - Volume 150, March 2015, Pages 74-78
نویسندگان
Zhijun Wang, Yaolin Guo, Sai Tang, Junjie Li, Jincheng Wang, Yaohe Zhou,