Characterization of an indirect X-ray imaging detector by simulation and experiment

ما یک مدل جامع از یک آشکارساز تصویربرداری غیر مستقیم غیر اشعه ایکس را توصیف می کنیم که به طور دقیق تابع گسترش اسپکتروسکوپی و وابستگی آن به انرژی اشعه ایکس را پیش بینی می کند. مدل با استفاده از اندازه گیری ها با استفاده از تابش تک رنگ آمیختروترن و به منابع پرتو ایکس پلی کروماتیک گسترش یافت. رویکرد ما می تواند برای پیش بینی عملکرد یک آشکارساز تصویر استفاده شود و می تواند برای بهینه سازی آزمایش های تصویربرداری با اشعه های اشعه ایکس باند استفاده شود.