کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8038246 | 1518331 | 2014 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Calibration for medium resolution off-axis electron holography using a flexible dual-lens imaging system in a JEOL ARM 200F microscope
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Calibration for medium resolution off-axis electron holography using a flexible dual-lens imaging system in a JEOL ARM 200F microscope Calibration for medium resolution off-axis electron holography using a flexible dual-lens imaging system in a JEOL ARM 200F microscope](/preview/png/8038246.png)
چکیده انگلیسی
In this work the calibration of a medium resolution off-axis electron holography using a dual-lens imaging system in a JEOL ARM 200F is shown. The objective dual-lens configuration allows adjusting the field of view from 35 nm to 2.5 μm. Subsequently, the parameters used in phase shift reconstruction were calibrated considering biprism voltage versus fringe spacing (Ï) and versus fringe width (W). The reliability of the transmission electron microscope performance using these parameters was achieved using gold nanoparticles of known size and adjusting the excitation voltage of the lenses.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 147, December 2014, Pages 44-50
Journal: Ultramicroscopy - Volume 147, December 2014, Pages 44-50
نویسندگان
Jesus Cantu-Valle, Francisco Ruiz-Zepeda, Fernando Mendoza-Santoyo, Miguel Jose-Yacaman, Arturo Ponce,