کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
8038287 1518332 2014 14 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Transfer and reconstruction of the density matrix in off-axis electron holography
ترجمه فارسی عنوان
انتقال و بازسازی ماتریس تراکم در هولوگرافی الکترونی خارج از محور
کلمات کلیدی
هولوگرافی الکترونی خارج از محور، ضریب انتقال ضریب انتقال، ماتریس تراکم،
ترجمه چکیده
ماتریس کاهشی کاهش یافته به طور کامل حالت کوانتومی الکترون را که توسط یک جسم در میکروسکوپ الکترونی انتقال منتقل شده است به تصویر کشیده است. با این حال، روند تشخیص فقط دسترسی به عناصر قطری را محدود می کند. عناصر خارج از قطر، تعیین انسجام الکترون پراکنده، ممکن است از طریق هولوگرافی الکترون حاصل شود. با این حال، به منظور استخراج اثر جسم از خارج قطرها، توجه دقیق به میکروسکوپ الکترونی مانند انحراف لنزهای عددی و دوبعدی ماتریکس النستدت در حضور انسجام جزئی لازم است. در اینجا، ما یک تئوری انتقال هولوگرافی بر اساس تعمیم ضریب عبور متقاطع شامل تمام پدیده های هولوگرافی شناخته شده را می گیریم. علاوه بر این، ساده سازی نظریه ای را برای تحلیل تجربی از الکترون های پرتو آلومینیومی پراکنده شده توسط سیلیکون های هواپیما اعمال می کنیم.
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
چکیده انگلیسی
The reduced density matrix completely describes the quantum state of an electron scattered by an object in transmission electron microscopy. However, the detection process restricts access to the diagonal elements only. The off-diagonal elements, determining the coherence of the scattered electron, may be obtained from electron holography. In order to extract the influence of the object from the off-diagonals, however, a rigorous consideration of the electron microscope influences like aberrations of the objective lens and the Möllenstedt biprism in the presence of partial coherence is required. Here, we derive a holographic transfer theory based on the generalization of the transmission cross-coefficient including all known holographic phenomena. We furthermore apply a particular simplification of the theory to the experimental analysis of aloof beam electrons scattered by plane silicon surfaces.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 146, November 2014, Pages 103-116
نویسندگان
, ,