Atomic structure from large-area, low-dose exposures of materials: A new route to circumvent radiation damage

تغییرات ساختاری ناشی از پرتو موجب ناراحتی مهمی در مطالعه مواد با میکروسکوپ الکترونی با وضوح بالا می شود. در اینجا، ما یک رویکرد جدید برای دور زدن مشکل آسیب تابش با یک روش آماری از مجموعه داده های بزرگ، پر سر و صدا و کم دوز از تنظیمات غیر پریودیک (مثلا نقص) در مواد ارائه می کنیم. ما دوز را در مخلوط ساختارهای مختلف نقص در موقعیت های تصادفی و با جهت گیری های تصادفی توزیع می کنیم و از طریق جستجوی حداکثر احتمال، تصاویر مدل نمایشی را بازیابی می کنیم. ما تجدیدنظر از تصاویر شبیه سازی شده را در چنین دوزهای کم نشان می دهیم که مکان های موجودیت های فردی امکان پذیر نیست. این رویکرد می تواند راهی برای مطالعه پیکربندی های حساس پرتو در دسترس نباشد.