کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8038364 | 1518341 | 2014 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Quantitative composition determination at the atomic level using model-based high-angle annular dark field scanning transmission electron microscopy
ترجمه فارسی عنوان
اندازه گیری کمیت ترکیب در سطح اتمی با استفاده از میکروسکوپ الکترونی پرتو اسکرولر در محدوده میدان مغناطیسی زاویه دار مبتنی بر مدل
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
چکیده انگلیسی
High angle annular dark field scanning transmission electron microscopy (HAADF STEM) images provide sample information which is sensitive to the chemical composition. The image intensities indeed scale with the mean atomic number Z. To some extent, chemically different atomic column types can therefore be visually distinguished. However, in order to quantify the atomic column composition with high accuracy and precision, model-based methods are necessary. Therefore, an empirical incoherent parametric imaging model can be used of which the unknown parameters are determined using statistical parameter estimation theory (Van Aert et al., 2009, [1]). In this paper, it will be shown how this method can be combined with frozen lattice multislice simulations in order to evolve from a relative toward an absolute quantification of the composition of single atomic columns with mixed atom types. Furthermore, the validity of the model assumptions are explored and discussed.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 137, February 2014, Pages 12-19
Journal: Ultramicroscopy - Volume 137, February 2014, Pages 12-19
نویسندگان
G.T. Martinez, A. Rosenauer, A. De Backer, J. Verbeeck, S. Van Aert,