Height drift correction in non-raster atomic force microscopy

ما یک روش جدید برای شناسایی و اصلاح رانش در میکروسکوپ پروب اسکن غیر رادیکس پیشنهاد می کنیم. در ریزپردازنده اسکنر معمولی، معمولا با حذف یک چندجمله ای از هر خط اسکن، تصحیح می شود، اما شیب نمونه یا ویژگی های توپوگرافی بزرگ می تواند منجر به مصنوعات شدید شود. روش ما از مسیرهای اسکن خودکار متقاطع استفاده می کند تا ریزش را از ویژگی های توپوگرافی تشخیص دهد. مشاهده تفاوت های ارتفاع در هنگام عبور از یک موقعیت در زمان های مختلف، امکان بازسازی یک عملکرد مستمر رانش را فراهم می کند. ما نشان می دهیم که تعداد کمی از تقاطع های خود برای تصحیح رانش خودکار و قابل اعتماد کافی است. علاوه بر این، ما یک تابع تناسب اندام را ارائه می دهیم که اندازه گیری کمی رفرم ​​را برای هر نوع اسکن دلخواه فراهم می کند.