| کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
|---|---|---|---|---|
| 8038393 | 1518342 | 2014 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Correction of nonlinear lateral distortions of scanning probe microscopy images
ترجمه فارسی عنوان
اصلاح اصلاحات جانبی غیر خطی تصاویر میکروسکوپ پروب اسکن
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
میکروسکوپ پروب اسکن تحریف تصویر الگوریتم تصحیح، کالیبراسیون،
ترجمه چکیده
یک روش برای تصحیح اعوجاج تصویر میکروسکوپ پروب اسکن نشان داده شده است. این بر مبنای تعیین بردارها جابجایی از اندازه گیری یک نمونه کالیبراسیون است. با حرکت دادن پیکسل ها از تصویر میکروسکوپ پروب اسکن شده در امتداد بردارهای جابه جایی، اصلاح تقریبا کامل از اعوجاج مستقل غیرخطی، زمان به دست می آید.
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
چکیده انگلیسی
A methodology for the correction of scanning probe microscopy image distortions is demonstrated. It is based on the determination of displacement vectors from the measurement of a calibration sample. By moving the pixels of the distorted scanning probe microscopy image along the displacement vectors an almost complete correction of the nonlinear, time independent distortions is achieved.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 136, January 2014, Pages 86-90
Journal: Ultramicroscopy - Volume 136, January 2014, Pages 86-90
نویسندگان
M. Schnedler, P.H. Weidlich, V. Portz, D. Weber, R.E. Dunin-Borkowski, Ph. Ebert,