کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8038436 | 1518343 | 2013 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Application of scanning thermal microscopy for investigation of thermal boundaries in multilayered photonic structures
ترجمه فارسی عنوان
استفاده از میکروسکوپ حرارتی اسکن برای بررسی مرزهای حرارتی در ساختارهای فوتونی نازک
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
سازه های لایه ای، میکروسکوپ حرارتی اسکن کردن، مرزهای حرارتی، تصویربرداری حرارتی، ساختارهای فوتونی،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
چکیده انگلیسی
The results prove that thermal imaging provides additional information to that obtained by standard AFM imaging.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 135, December 2013, Pages 95-98
Journal: Ultramicroscopy - Volume 135, December 2013, Pages 95-98
نویسندگان
J. Juszczyk, M. Krzywiecki, R. Kruszka, J. Bodzenta,