کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8038492 | 1518345 | 2013 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Ranking TEM cameras by their response to electron shot noise
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
⺠Fourier amplitude spectra of noise are well fitted by a single Lorentzian. ⺠This measures how closely, or not, the response approaches the single-pixel ideal. ⺠Noise in the Fourier amplitudes is (1âÏ/4) times the shot noise power spectrum. ⺠Finite variance in the single-electron responses adds to the output noise. ⺠This excess noise may be equal to or greater than shot noise itself.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 133, October 2013, Pages 1-7
Journal: Ultramicroscopy - Volume 133, October 2013, Pages 1-7
نویسندگان
Patricia Grob, Derek Bean, Dieter Typke, Xueming Li, Eva Nogales, Robert M. Glaeser,