کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
8038492 1518345 2013 7 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Ranking TEM cameras by their response to electron shot noise
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Ranking TEM cameras by their response to electron shot noise
چکیده انگلیسی
► Fourier amplitude spectra of noise are well fitted by a single Lorentzian. ► This measures how closely, or not, the response approaches the single-pixel ideal. ► Noise in the Fourier amplitudes is (1−π/4) times the shot noise power spectrum. ► Finite variance in the single-electron responses adds to the output noise. ► This excess noise may be equal to or greater than shot noise itself.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 133, October 2013, Pages 1-7
نویسندگان
, , , , , ,