کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8038516 | 1518357 | 2012 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
A hybrid scanning mode for fast scanning ion conductance microscopy (SICM) imaging
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠We introduce a new method for fast scanning ion conductance microscopy (FSCIM). ⺠Method based on adaptive scanning using a field programmable gate array. ⺠Method gives improved sampling rate compared to other SICM control methods. ⺠Comparison of hopping mode SICM and FSICM made on live A6 cells.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 121, October 2012, Pages 1-7
Journal: Ultramicroscopy - Volume 121, October 2012, Pages 1-7
نویسندگان
Alex Zhukov, Owen Richards, Victor Ostanin, Yuri Korchev, David Klenerman,