کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8038519 | 1518357 | 2012 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Probing the probe: AFM tip-profiling via nanotemplates to determine Hamaker constants from phase-distance curves
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠Van der Waal forces in tapping mode atomic force microscopy. ⺠Harmonic approximation model of phase-distance curves probed by simulations. ⺠Silica tips and surfaces as a model case. ⺠Tip geometry determined in situ by nanoparticles as nanotemplates. ⺠Method to derive the Hamaker constant for any tip/surface system.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 121, October 2012, Pages 25-30
Journal: Ultramicroscopy - Volume 121, October 2012, Pages 25-30
نویسندگان
Raul D. Rodriguez, Emmanuelle Lacaze, Jacques Jupille,