کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
8038528 1518362 2012 5 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Correction of non-linear thickness effects in HAADF STEM electron tomography
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Correction of non-linear thickness effects in HAADF STEM electron tomography
چکیده انگلیسی
► In HAADF STEM, a thickness dependent, non-linear damping of the projected intensities occurs. ► In tomography, this leads to underestimated intensities in the interior of homogeneous particles, the cupping artifact. ► The non-linear damping is demonstrated in experimental images and reproduced with numerical simulations. ► The non-linear damping can be undone if the imaging is done quantitatively. ► Experimental proof is provided showing that cupping can be prevented.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 116, May 2012, Pages 8-12
نویسندگان
, , , , , , ,