کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8038528 | 1518362 | 2012 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Correction of non-linear thickness effects in HAADF STEM electron tomography
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
⺠In HAADF STEM, a thickness dependent, non-linear damping of the projected intensities occurs. ⺠In tomography, this leads to underestimated intensities in the interior of homogeneous particles, the cupping artifact. ⺠The non-linear damping is demonstrated in experimental images and reproduced with numerical simulations. ⺠The non-linear damping can be undone if the imaging is done quantitatively. ⺠Experimental proof is provided showing that cupping can be prevented.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 116, May 2012, Pages 8-12
Journal: Ultramicroscopy - Volume 116, May 2012, Pages 8-12
نویسندگان
W. Van den Broek, A. Rosenauer, B. Goris, G.T. Martinez, S. Bals, S. Van Aert, D. Van Dyck,