کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8038534 | 1518362 | 2012 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Limits of spatial and compositional resolution of electron energy loss spectroscopy of soft materials
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠We extend multiple least squares fitting of EELS spectra to accommodate Poisson noise. ⺠We relate the reference spectra difference and composition accuracy in one parameter. ⺠We derive an equation that predicts resolution in exposure-limited EELS mapping.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 116, May 2012, Pages 39-46
Journal: Ultramicroscopy - Volume 116, May 2012, Pages 39-46
نویسندگان
Sergey Yakovlev, Nitash P. Balsara, Kenneth H. Downing,