کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8038536 | 1518362 | 2012 | 9 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Atomic-resolution defect contrast in low angle annular dark-field STEM
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠LAADF STEM imaging mode allows zone axis defect contrast analysis. ⺠Camera length adjustment allows continuous transition from Z to defect contrast. ⺠Scattering matrix and multislice simulations are compared to experiments. ⺠Atomic resolution is preserved in LAADF mode.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 116, May 2012, Pages 47-55
Journal: Ultramicroscopy - Volume 116, May 2012, Pages 47-55
نویسندگان
P.J. Phillips, M. De Graef, L. Kovarik, A. Agrawal, W. Windl, M.J. Mills,