کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8038538 | 1518362 | 2012 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Infrared microspectroscopy combined with conventional atomic force microscopy
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠Nanotopography imaging is combined with micrometer-scale infrared spectroscopy. ⺠Infrared detector is a bimaterial cantilever. ⺠Infrared measurements have resolution 25 μm and about 100 cmâ1.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 116, May 2012, Pages 56-61
Journal: Ultramicroscopy - Volume 116, May 2012, Pages 56-61
نویسندگان
B. Kwon, M.V. Schulmerich, L.J. Elgass, R. Kong, S.E. Holton, R. Bhargava, W.P. King,