| کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن | 
|---|---|---|---|---|
| 8038542 | 1518362 | 2012 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان | 
عنوان انگلیسی مقاله ISI
												The Young-Feynman two-slits experiment with single electrons: Build-up of the interference pattern and arrival-time distribution using a fast-readout pixel detector
												
											دانلود مقاله + سفارش ترجمه
													دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
																																												کلمات کلیدی
												
											موضوعات مرتبط
												
													مهندسی و علوم پایه
													مهندسی مواد
													فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
												
											پیش نمایش صفحه اول مقاله
												 
												چکیده انگلیسی
												⺠We present the first results obtained regarding the two-slits Young-Feynman experiment with single electrons. ⺠We use two nano-slits fabricated by Focused Ion Beam technique. ⺠We insert in the transmission electron microscope a detector, designed for experiments in future colliders. ⺠We record the build-up of high statistic single electron interference patterns. ⺠We measure the time distribution of electron arrivals.
											ناشر
												Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 116, May 2012, Pages 73-76
											Journal: Ultramicroscopy - Volume 116, May 2012, Pages 73-76
نویسندگان
												Stefano Frabboni, Alessandro Gabrielli, Gian Carlo Gazzadi, Filippo Giorgi, Giorgio Matteucci, Giulio Pozzi, Nicola Semprini Cesari, Mauro Villa, Antonio Zoccoli,