کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8038542 | 1518362 | 2012 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
The Young-Feynman two-slits experiment with single electrons: Build-up of the interference pattern and arrival-time distribution using a fast-readout pixel detector
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠We present the first results obtained regarding the two-slits Young-Feynman experiment with single electrons. ⺠We use two nano-slits fabricated by Focused Ion Beam technique. ⺠We insert in the transmission electron microscope a detector, designed for experiments in future colliders. ⺠We record the build-up of high statistic single electron interference patterns. ⺠We measure the time distribution of electron arrivals.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 116, May 2012, Pages 73-76
Journal: Ultramicroscopy - Volume 116, May 2012, Pages 73-76
نویسندگان
Stefano Frabboni, Alessandro Gabrielli, Gian Carlo Gazzadi, Filippo Giorgi, Giorgio Matteucci, Giulio Pozzi, Nicola Semprini Cesari, Mauro Villa, Antonio Zoccoli,