کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8038569 | 1518366 | 2011 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
High precision measurements of atom column positions using model-based exit wave reconstruction
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
⺠We introduce a real space focal series exit wave reconstruction technique. ⺠The reconstruction is model-based and uses the channelling theory. ⺠We measure atomic positions from the exit wave using parameter estimation. ⺠The complex exit wave contains the same information as the full focal series. ⺠For thin objects the phase of the exit wave contains also the same information.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issues 9â10, AugustâOctober 2011, Pages 1475-1482
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issues 9â10, AugustâOctober 2011, Pages 1475-1482
نویسندگان
A. De Backer, S. Van Aert, D. Van Dyck,