کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8146764 | 1524115 | 2015 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Temperature coefficient of resistance and thermal conductivity of Vanadium oxide 'Big Mac' sandwich structure
ترجمه فارسی عنوان
ضریب مقاومت دما و هدایت حرارتی ساختار ساندویچ "اکسید وانادیوم" اکسید بزرگ
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
اکسید وانادیوم، هدایت حرارتی، انحراف عکس حرارتی، ضریب مقاومت دما، میکروبولومتر،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
فیزیک اتمی و مولکولی و اپتیک
چکیده انگلیسی
In this paper, we synthesize and characterize a thin film thermometer structure for infrared microbolometers. The structure is composed of alternating multilayers of Vanadium pentoxide (V2O5), 25 nm, and Vanadium (V), 5 nm, thin films deposited by rf magnetron and dc magnetron sputtering respectively and annealed for 20, 30 and 40 min at 300 °C in Nitrogen (N2) atmosphere. The best achieved temperature coefficient of resistance (TCR) was found to be â2.57%/K for 40 min annealed samples. Moreover, we apply, for the first time, the photo-thermal deflection (PTD) technique for measuring the thermal conductivity of the synthesized thin films. The thermal conductivity of the developed thin films reveals an increase in thermal conductivity from 2 W/m K to 5.8 W/m K for as grown and 40 min annealed samples respectively.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Infrared Physics & Technology - Volume 71, July 2015, Pages 127-130
Journal: Infrared Physics & Technology - Volume 71, July 2015, Pages 127-130
نویسندگان
M. Abdel-Rahman, S. Ilahi, M.F. Zia, M. Alduraibi, N. Debbar, N. Yacoubi, B. Ilahi,