کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8208532 | 1532060 | 2018 | 15 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Confocal total reflection X-ray fluorescence technology based on an elliptical monocapillary and a parallel polycapillary X-ray optics
ترجمه فارسی عنوان
تکنولوژی فلورسانس اشعه ایکس با استفاده از یک کانال اپتیکال و یک اپیکال پرتو ایکس پلیکاپیلا
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
فلورسانس اشعه ایکس کل بازتاب، لنز مونوکاپیلی، فیلم تک لایه،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
تشعشع
چکیده انگلیسی
A total reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectrometer based on an elliptical monocapillary X-ray lens (MXRL) and a parallel polycapillary X-ray lens (PPXRL) was designed. This TXRF instrument has micro focal spot, low divergence and high intensity of incident X-ray beam. The diameter of the focal spot of MXRL was 16.5â¯Âµm, and the divergence of the incident X-ray beam was 3.4â¯mrad. We applied this TXRF instrument to the micro analysis of a single-layer film containing Ni deposited on a Si substrate by metal vapor vacuum arc ion source.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Radiation and Isotopes - Volume 137, July 2018, Pages 172-176
Journal: Applied Radiation and Isotopes - Volume 137, July 2018, Pages 172-176
نویسندگان
Yu Zhu, Yabing Wang, Tianxi Sun, Xuepeng Sun, Xiaoyun Zhang, Zhiguo Liu, Yufei Li, Fengshou Zhang,