کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8210498 | 1532114 | 2013 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Nondestructive method for quantifying thallium dopant concentrations in CsI:Tl crystals
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
تشعشع
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
We report a quantitative method for using X-ray fluorescence (XRF) to nondestructively measure the true content of Tl dopant in CsI:Tl scintillator crystals. The instrument is the handheld LeadTracerâ¢, originally developed at RMD Instruments for measuring Pb concentration in electronic components. We describe both the measurement technique and specific findings on how changes in crystal size and growth parameters affect Tl concentration. This method is also applicable to numerous other activator ions important to scintillators, such as Ce3+ and Eu2+.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Radiation and Isotopes - Volume 82, December 2013, Pages 133-138
Journal: Applied Radiation and Isotopes - Volume 82, December 2013, Pages 133-138
نویسندگان
Stuart R. Miller, Elena E. Ovechkina, Paul Bennett, Charles Brecher,