کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
8210498 1532114 2013 6 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Nondestructive method for quantifying thallium dopant concentrations in CsI:Tl crystals
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه فیزیک و نجوم تشعشع
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Nondestructive method for quantifying thallium dopant concentrations in CsI:Tl crystals
چکیده انگلیسی
We report a quantitative method for using X-ray fluorescence (XRF) to nondestructively measure the true content of Tl dopant in CsI:Tl scintillator crystals. The instrument is the handheld LeadTracer™, originally developed at RMD Instruments for measuring Pb concentration in electronic components. We describe both the measurement technique and specific findings on how changes in crystal size and growth parameters affect Tl concentration. This method is also applicable to numerous other activator ions important to scintillators, such as Ce3+ and Eu2+.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Radiation and Isotopes - Volume 82, December 2013, Pages 133-138
نویسندگان
, , , ,