کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
850754 | 909291 | 2012 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Effects of pinhole diameters on beam characteristics for silicon thin film optical inspection
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
مهندسی (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Peak power density stability and beam-wander precision of probe laser are important factors affecting the inspection results in the precision thin film optical measurements. Pinhole is frequently used as a spatial filter in the optical inspection system. In this work, four different diameters of pinhole are investigated experimentally. It is found that pinhole diameter of 0.3 mm is considered to be a promising candidate for mounting in front of probe laser for silicon thin film optical inspection due to better peak power density stability and better beam-wander precision.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Optik - International Journal for Light and Electron Optics - Volume 123, Issue 7, April 2012, Pages 641–644
Journal: Optik - International Journal for Light and Electron Optics - Volume 123, Issue 7, April 2012, Pages 641–644
نویسندگان
Chil-Chyuan Kuo, Jia-Hao Lee, Yi-Ruei Chen,