کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
8840508 1614577 2017 42 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Back to the Future: Circuit-testing TS & OCD
موضوعات مرتبط
علوم زیستی و بیوفناوری علم عصب شناسی علوم اعصاب (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Back to the Future: Circuit-testing TS & OCD
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Neuroscience Methods - Volume 292, 1 December 2017, Pages 2-11
نویسندگان
,